首頁產品展示》CIT-3000SMD(B)/DF X熒光分析儀

CIT-3000SMD(B)/DF X熒光分析儀(限東北、內蒙地區)

一、應用領域

有色、黑色冶金、礦山樣品分析,水泥全元素檢測等。

二、性能特點:

♦ 樣品平台自動升降,工作十分方便;
♦ 樣品盤自動旋轉,測量麵積更大,並能最大限度的消除顆粒誤差和不均勻誤差;
♦ 抽真空測量,可以更大限度的提高測量元素的檢測限,有利於多金屬測量及其他輕元素測量;
♦ 先進的模塊化設計理念,保證了儀器後續的高擴展性;
♦ 采用低功率X光管端窗前直徑更大,對樣品具有更好的激發效率;
♦ 更先進的矽漂移SDD電製冷半導體探測器,分辨率和計數率更高,有利於要求更高或更複雜的樣品分析。

三、儀器技術指標

(1)測量範圍:1-40kev;
(2)可分析元素範圍:Na-U;
(3)分析含量範圍:1ppm-99.99%;
(4)分辨率:優於130Ev;
(5)最低檢出限:Pb≤5ppm;
(6)工作環境溫度:0-40℃;
(7)工作環境相對濕度:≤80%(不結露)
(8)測量時間:10-2550s(時間可調)
(9)輸入電源:AC 220V ±10%,50Hz;
(10)額定功率:300W;
(11)探測器類型:采用最新的高性能電製冷矽漂移SDD探測器;
(12)500萬像素的CCD攝像頭,可有效的實現觀察測試區域狀況,並拍下物料照片,可作為檢測報告的組成部分;
(13)儀器尺寸:600(W)×570(D)×570(H)mm
(14)樣品腔尺寸:樣品腔:300*300*100mm
(15)重量:約100Kg

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